Có kết luận nguyên nhân gây nổ pin trên Samsung Galaxy Note 7

Sau hơn 2 tháng thu hồi, Samsung đã tìm ra được nguyên nhân của hàng loạt sự cố nổ pin trên Note 7.

Theo phân tích, chỉ 2 lớp polymer được thấm thuốc điện giải (electrolyte) được sử dụng để tách một lớp dương lithium cobalt oxide – LiCoO 2 và một lớp âm than chì (graphite). Nếu 2 lớp âm dương trên chạm vào nhau, các chất điện giải sẽ bị nóng và dễ gây cháy nổ.

Trong quá trình thiết kế, việc nén pin sẽ khiến cho 2 lớp âm và dương bị dính lại với nhau. Thêm vào đó, cấu tạo mỏng này sẽ làm cho pin dễ bị phồng do áp lực pin gây ra. Tuy nhiên, Samsung đã quá chủ quan trong khâu thiết kế và tỏ ra khá tự hào về sản phẩm của mình.

Lỗi thiết kế pin là thủ phạm gây ra sự cố cháy nổ.

Để đáp ứng cho thiết kế siêu mỏng nên bộ phận pin cũng được thu gọn tối giản sao cho càng mỏng càng tốt. Nếu lượng Galaxy Note 7 đã được bán ra trên toàn thế giới không được thu hồi kịp thời, toàn bộ số smartphone này sẽ bị phá hủy hoàn toàn.

Sai lầm của Samsung là đã tự kiểm tra pin của Galaxy Note 7 thay vì đem pin đi thử nghiệm tại các phòng thí nghiệm của các bên thứ ba như một số nhà sản xuất smartphone khác.

Theo trang tin Instrumental, việc thiết kế và quá trình kiểm nghiệm một sản phẩm mới là thách thức với tất cả mọi người. Trong trường hợp này, Samsung đã cố ý gây ra nguy hiểm và thực tế cho thấy cơ sở vật chất cũng như quá trình kiểm nghiệm thiết kế hiện có của hãng chưa đáp ứng được yêu cầu. Lỗi ngớ ngẩn này xảy ra ở một trong những công ty điện tử tiêu dùng hàng đầu thế giới đã minh chứng công ty cần có những thiết bị, máy móc tốt hơn.

Nói một cách ngắn gọn, Samsung đã “tự bắn vào chân mình”. Theo tính toán, thương hiệu này mất tới 5 tỷ USD cho sự cố trên (bao gồm cả thiệt hại doanh thu và các chi phí thu hồi).